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薄膜测厚仪器

• 波长范围:400到1100 nm• 光斑尺寸:500μm至5mm• 样品尺寸:200mmx200mm或直径为200mm• 基板尺寸:多可至50毫米厚• 测量厚度范围*:20nm〜50μm• 测量时间:快2毫秒 • 精确度*:优于0.5%

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微电极拉针仪

美国Sutter公司微电极拉针仪可分为垂直式拉制仪和水平式拉制仪.垂直式微电极拉针仪是利用金属丝(钨丝或铂丝绕成螺管状)通过大电流使玻璃管加热到熔点,利用重力拉断.水平微电极拉针仪则是利用弹力或电动力作单次或多次拉制.

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